INSPECTIO ET FASCICULUS ZW SERIES WELDING DIODE
Test rationes et inspectionem regit
1. Batch per batch inspectionem (Group inspectionem)
Singulae productorum massae secundum Tabulam 1, inspiciendae sunt, et omnia quae in Tabula 1 non sunt perniciosa sunt.
Mensam I recognitionis Per Batch
| Group | inspiciendaItem | Methodus inspectionis | Criterium | AQL (Ⅱ) |
| A1 | Aspectus | Visual inspection (sub normalibus conditionibus illuminationis et visionis) | Logo patet, superficies vestis et platca libera sunt de decorticatione et damno. | 1.5 |
| A2a | Characteres electrici | 4.1(25℃), 4.4.3(25℃) in JB/T 7624-1994 | Verticitas invertitur:VFM>10USL IRRM>100USL | 0.65 |
| A2b | VFM | 4.1(25℃) in JB/T 7624-1994 | Querimonia ad requisita | 1.0 |
| IRRM | 4.4.3 (25℃, 170℃) in JB/T 7624-1994 | Querimonia ad requisita | ||
| Nota: USL est max modus pretii. | ||||
2. periodica inspectionis (Group B et Group C inspectionem)
Secundum Tabulam II, producta finalisata in normali productione inspicienda sunt saltem unum massam Group B et Group C omni anno, et inspectio notata cum (D) sunt probata perniciosa.Si initialis inspectio simpliciter est, adiectio sampling iterum inspici potest secundum Appendicem Tabulam A. 2, sed semel tantum.
Mensam II periodica Inspectionis (Group B)
| Group | inspiciendaItem | Methodus inspectionis | Criterium | Sampling Plan | |
| n | Ac | ||||
| B5 | Temperatus revolutio (D) sequitur obsignando |
| Mensurae post testVFM≤1.1USL IRRM≤2USL non ultrices | 6 | 1 |
| CRRL | Breviter da attributa quaelibet coetus pertinentia, scilicet V .FM et *RRMvalues ante et post experimentum et probatio conclusionis. | ||||
3. sativum inspectionem (coetus D inspectionem)
Cum productum perficiatur et in aestimationem producendam ponatur, praeter inspectiones coetus A, B, C, coetus probatio D fieri debet etiam secundum Tabulam 3, et item inspectio notata (D) probata perniciosa sunt.Normalis productio productorum finalisatorum probabitur saltem una massa Group D singulis annis.
Si inspectionem initialem defecerit, additamentum sampling rursus inspici potest secundum tabulam Appendicem A. 2, sed semel tantum
Mensam III Lepidium sativum Test
| No | Group | inspiciendaItem | Methodus inspectionis | Criterium | Sampling Plan | |
| n | Ac | |||||
| 1 | D2 | Scelerisque exolvuntur onus test | Cycle times: 5000 | Mensuratio post test: VFM≤1.1USL IRRM≤2USL | 6 | 1 |
| 2 | D3 | Inpulsa seu tremor | 100g: tene 6ms, fluctum dimidii sinum, duas directiones axium 3 mutuo perpendicularis, 3 vicibus in utramque partem, totalem 18 vicibus.20g: 100~ 2000Hz，2h cujusvis directionis, totalis 6h. | Mensuratio post test: VFM≤1.1USL IRRM≤2USL | 6 | 1 |
| CRRL | Breviter da notitias quaelibet attributae cuiusque coetus, V .FM , IRRMet *DRMvalues ante et post experimentum et probatio conclusionis. | |||||
Vestigium et Packaging
1. Mark
1.1 Mark in productum includit
1.1.1 Product numerum
1.1.2 Terminatio idem signum
1.1.3 Company nomen vel tincidunt
1.1.4 metus multum idem codice
1.2 Logo in lobortis vel attachiatus disciplinam
1.2.1 Product exemplar ac vexillum numerus
1.2.2 Company nomen et logo
1.2.3 umor-probatio et pluviae probatio signa
1.3 Package
Productum packaging requisita domesticis normis vel elit necessitatibus parere debent
1.4 Product document
Productum exemplar, exsecutio vexillum numerus, specialis electricae exsecutionis requisita, species, etc. in documento esse debent.
Thewelding diodeproductus a Jiangsu Yangjie Runau Semiconductor late applicatur resistentia welder, media et alta machina frequentia glutino usque ad 2000Hz vel supra.Cum ultra-low deinceps apicem voltage, ultra-humilis resistentia scelerisque, statu technicae artis fabricandi, praestans substitutio facultatis et stabilis effectus pro usoribus globali, glutino diode a Jiangsu Yangjie Runau Semiconductor est una certissima potentia Sinarum fabrica semiconductor products.